支援事例

SEESE株式会社様のご依頼により、あるメーカ様が採用予定のCOTS品の放射線試験を計画・実行させて頂きました。採用する部品の中から、評価をしたいデバイスを選考頂きまして、シングルイベント効果SEE試験（プロトン照射）を実施しました。

評価対象は、DAC、ADC、OPアンプ、Trの４品種です。

まず、評価方法の検討をした結果、照射ボードの回路設計を実施しまして、評価方法を検討して試験装置の仕様も作成しております。照射ボードの製造と試験装置の製造と評価は、外部委託をしております。

基本的には、SET,SEU,SEL及び、SEFIができるものになっております。また、フラックス、トータルフルーエンスから、エラーの発生頻度にがり、エラーレートを計算できる仕組みにしております。また、照射中のエラー情報は、すべて記録できるようにしており、エラーの発生状況など、試験後に分析を実施できるように工夫しております。

こちらの照射試験は、大阪大学　核物理研究技術センタＲＣＮＰにおいて実施しました。試験前には、現地で試験装置とビーム照射位置などの調整を実施、試験当日にむけて、試験計画と詳細なタイムスケジュールを作成して試験に臨みました。ＳＥＥ試験は、ビーム調整を設備側にして頂くのですが、その際の調子により、ビーム調整時間が予定よりかかります。そのような場合にも、試験のミニマムサクセスを目指して、試験計画の変更を判断します。最終的には、デバイスの放射線耐性の優劣を決定することができました。